用途:
适合于测量粒度较均匀（即粒度分布范围窄）的可分散于盐水中的粉体样品，也适用于测量水中稀少的固体颗粒的尺寸和个数。
工作原理:
采用小孔电阻原理，即库尔特法测量颗粒的大小并计数。
将稀释的颗粒悬浮液分散在电解质溶液中，通过搅拌形成均匀混合物，并使其通过绝缘壁（小孔管）上的一个小孔。在小孔两侧放置两个电极并施加电流，当颗粒通过小孔时，通过阻抗的变化对其进行检测。颗粒通过时产生的阻抗脉冲信号被放大并记录。通过对脉冲的高度和形状进行分析，获得颗粒粒径及颗粒计数数据。脉冲高度通常被认为与颗粒体积成正比。通过校准，这个尺度可转换为体积等效球形直径。基于直径的校准常数可以通过下面公式计算：
式中 为粒径校准常数。是出现频度最高的脉冲幅度。为有证粒度标准样品的峰值粒径。
任何颗粒的体积等效球直径能通过下面公式计算：
式中 为任一颗粒产生的电脉冲幅度。
原理性特点:
电阻法一直是测量颗粒粒度分布的常规方法之一。该方法测试结果不受颗粒形状和密度的影响，适用于各种颗粒材料的粒度测定。由于该技术逐个测量每个颗粒的大小，然后再统计出粒度分布的，具有高分辨率和高准确性的优势，同时兼具颗粒计数功能。
该仪器特别适合测量的对象有：a. 对分辨率要求很高，或者对粒度分布宽度特别关注的粉体，例如磨料微粉、复印粉等。b. 液体中稀少的样品颗粒或某特定关注粒径范围的稀少颗粒。c.贵重样品;
技术特点:
iPM-3200在硬件设计和软件算法上均有升级，不仅拓宽测量和应用范围，在测试性能上也获得提升。
1. 升级的高信噪比芯片电路平台
iPM-3200采用新版的数据采集芯片及控制电路系统，共模抑制比由iPM-2100的100dB提升至140dB，降低噪声水平多达36%，大幅减小了系统噪声对细颗粒测试的计数准确性和粒径真实性的影响，提高了各孔管测试下限的性能。
2. 升级的抗干扰性能
iPM-3200对关键的电极片传感器新增一体式金属电磁屏蔽装置，显著改善了复杂电磁环境对测试结果的干扰，保障了测试数据的真实性。
3. 极端条件下的采样性能提升
检测单脉冲时延从200μs减少至 5μs，可适用的样品颗粒数量浓度范围得以扩大。系统采用双边沿触发电路设计，全程颗粒信号替代了半程颗粒信号被分析，计算脉冲宽度更精准，提高极端形貌的非球形颗粒粒径测试准确性。增大的小孔管电流设计，结合上述改进一起使得细颗粒漏检率大幅降低。
4. 多孔径高性能小孔管可选
iPM-3200提供30、50、100、200、280、400μm等小孔管可选，满足涵盖亚微米至数百微米颗粒的测试需求。采用新设计的小孔管，减少了气泡聚集的可能性，避免了对样品流经小孔管流速的影响，提升了测试结果的一致性和准确性。新增30μm小孔管结合增大电流设计，使得iPM-3200可以测量细至0.6μm甚至更细的颗粒。
5. 液压排堵功能
液压排堵采用泵入电解质储液瓶中的介质进行排堵操作，比传统方法排堵效率更高，且杜绝了在排堵过程中引入气泡和气泡卡涩在小孔附近对测试和数据的影响。
6. 工装定位的搅拌装置
iPM-3200采用优化的搅拌装置定位及样品杯托架设计，进一步提高了搅拌性能在维护前后及同型号仪器之间的一致性，少量离群大颗粒计数的准确性和重现性明显改善。
7. 下限测试性能的提升
RC-2200, 采用30um孔管测试0.6-1.5um 标准粒子
RC-2200具备细至0.8um以下颗粒的准确粒径测试性能及0.6um以下的颗粒计数性能，对于有细颗粒检测需求的相关应用显著地提升了下限的灵敏度和准确性。
8. 自动化SOP测试，提升测试结果一致性
RC-2200具有自动化SOP标准化测试性能，可以在SOP中配置搅拌方式、测试流程、测量时间等条件参数，并创新地开发了多功能联用长SOP设计，减少人为操作的需要，提高了测试结果重现性。
9. 自定义报告参数及多种数据分类、筛选、排序、统计等分析功能
RC-2200具备氧化铝生产样品颗粒分粒径段计数、频数及粒径分布的专用行业报表，可快速指导生产调整，且可以Excel、Word等格式导出。
附件：RC-2200测试报告（见下页）
